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高斯計(jì)和磁通計(jì)的優(yōu)缺點(diǎn)對比
點(diǎn)擊量：發(fā)布時(shí)間：2024-02-18 14:05
高斯計(jì)優(yōu)點(diǎn)：方便快捷，直觀，便于攜帶
高斯計(jì)缺點(diǎn)：點(diǎn)測試，測不準(zhǔn)，不同人測量不一樣，不同廠家高斯計(jì)測量的值不一樣，同一臺(tái)高斯計(jì)探頭不同測量的值不一樣，測試數(shù)據(jù)有很大的發(fā)散性，產(chǎn)生的原因是高斯計(jì)探頭的芯片，探頭封裝的厚薄，芯片的位置，測試高斯值很難是同一點(diǎn)測試，芯片大小不同，還有磁體表磁不均勻，高斯計(jì)出廠標(biāo)準(zhǔn)是在均勻磁場中校準(zhǔn)的，因此高斯計(jì)測量的值很難統(tǒng)一和比對。
磁通計(jì)優(yōu)點(diǎn)：檢測操作方便快捷，是測量磁場、磁通的理想儀器。測量的是磁體的整體平均值，可以反映磁體的整體性能，磁通量的值可以完全的比對和傳遞，磁通可以反映磁體的整體性能，如表磁高（某一點(diǎn)高，不能代表全部），磁通量不一定大；反之磁通量大磁通性能一定好（磁體體內(nèi)的所有磁力線的綜合）。
磁通計(jì)缺點(diǎn)：每種不同規(guī)格的磁鐵樣品，必須做不同尺寸的線圈，嚴(yán)格來說對非常薄的樣品，檢測線圈的制備難度也是比較大的，費(fèi)事而低效。